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產品資料

小麥品質分析和面粉麩星檢測儀

如果您(nin)對(dui)該產品感興趣(qu)的話(hua),可以
產品名稱: 小麥品質分(fen)析(xi)和面粉麩星檢測儀
產品型號: DSF-III
產品展商: 杭(hang)州大吉光電儀器有限公(gong)司
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

小麥品質分析和面粉麩星檢測儀:快速測量小麥的粒數、千粒重、粒形、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等，面粉的麩星、砂石的大小和含量。小麥品質分析和面粉麩星檢測儀用于實驗室快速檢測獲得批處理數據（包括小麥粒數、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度或飽滿度、籽粒顏色、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等；面粉的麩星、砂石的大小和含量）。小麥品質檢測方法符合GB/T 5504-2011《糧料檢驗 小麥粉加工精度檢驗》、GB/T 27628-2011《糧油檢驗 小麥粉粉色、麩星的測定》中的小麥粉麩星測定方法。


小麥品質分析和面粉麩星檢測儀  的詳細介紹

小麥品質分析和面(mian)粉麩星檢測儀快(kuai)速(su)(su)測量(liang)(liang)小麥(mai)(mai)的(de)(de)粒(li)數、千(qian)(qian)粒(li)重、粒(li)形(xing)、霉變率、芽麥(mai)(mai)率、黑胚率、破損率等，面粉(fen)的(de)(de)麩星(xing)、砂石的(de)(de)大(da)小和(he)含量(liang)(liang)。用于實驗室快(kuai)速(su)(su)檢測獲得批(pi)處理數據（包括小麥(mai)(mai)粒(li)數、千(qian)(qian)粒(li)重、籽(zi)粒(li)形(xing)狀(zhuang)、籽(zi)粒(li)整(zheng)齊度或飽滿(man)度、籽(zi)粒(li)顏色(se)、霉變率、芽麥(mai)(mai)率、黑胚率、破損率等；面粉(fen)的(de)(de)麩星(xing)、砂石的(de)(de)大(da)小和(he)含量(liang)(liang)）。小麥(mai)(mai)品質檢測方法符(fu)合GB/T 5504-2011《糧料(liao)檢驗 小麥(mai)(mai)粉(fen)加工精(jing)度檢驗》、GB/T 27628-2011《糧油檢驗 小麥(mai)(mai)粉(fen)粉(fen)色(se)、麩星(xing)的(de)(de)測定(ding)》中(zhong)的(de)(de)小麥(mai)(mai)粉(fen)麩星(xing)測定(ding)方法。


小麥品質分析(xi)和面粉麩星檢測儀儀器特點：
儀器由光學成像系統(tong)、智(zhi)能(neng)(neng)分(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)軟(ruan)件、220g量(liang)程1mg精度(du)電子天平組成。系統(tong)具有優越的自學習能(neng)(neng)力(li)，實(shi)現人(ren)性(xing)化的一鍵式智(zhi)能(neng)(neng)分(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)，并(bing)可(ke)(ke)交(jiao)互修(xiu)正(zheng)個別的分(fen)類錯(cuo)誤點，以達到(dao)100%正(zheng)確分(fen)類結(jie)(jie)(jie)果(guo)。該分(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)系統(tong)能(neng)(neng)大(da)批量(liang)處理，自動分(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)300個以上小(xiao)(xiao)麥和面粉樣品(pin)的高分(fen)辨率圖像。由**軟(ruan)件分(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)成像后的彩色/圖像，準確、快速(su)地(di)測(ce)定小(xiao)(xiao)麥的粒數(shu)、千粒重、籽粒形狀、籽粒整(zheng)齊度(du)、籽粒飽滿(man)度(du)（即：可(ke)(ke)按面積(ji)自動排序(xu)及(ji)輸(shu)出）、籽粒顏色、霉變率、芽麥率、黑胚(pei)率、破損率等(deng)指(zhi)標(biao)，以及(ji)面粉中的麩(fu)(fu)星(xing)粒數(shu)和大(da)小(xiao)(xiao)、麩(fu)(fu)星(xing)面積(ji)比和對(dui)應(ying)的砂石占比。軟(ruan)件能(neng)(neng)讓(rang)用戶(hu)實(shi)時看到(dao)真實(shi)樣品(pin)分(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)過(guo)程情況，并(bing)交(jiao)互修(xiu)正(zheng)；當面粉指(zhi)標(biao)偏離設定參數(shu)時，可(ke)(ke)報警顯示(shi)；用戶(hu)可(ke)(ke)隨意(yi)查(cha)詢檢測(ce)結(jie)(jie)(jie)果(guo)，并(bing)打印(yin)。所有測(ce)試(shi)圖像分(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)結(jie)(jie)(jie)果(guo)和數(shu)據可(ke)(ke)在(zai)電腦上顯示(shi)并(bing)保存。數(shu)據準確可(ke)(ke)靠，結(jie)(jie)(jie)果(guo)穩定、重復性(xing)高；樣品(pin)可(ke)(ke)重復測(ce)試(shi)，重現性(xing)高。

小麥品質分析和面粉麩星檢測儀主要性能指標：
*大分析(xi)面積：小(xiao)麥為A4紙幅面；面粉為35mm×35mm
測量時(shi)間(jian)：小麥≤2分鐘/樣品；面(mian)粉≤1分鐘/樣品視野。
小麥(mai)千(qian)粒重測量重復性(xing)誤差±≤0.5%
兩(liang)次掃(sao)描單面分析外觀品質的重復性(xing)誤(wu)差±≤2.0%
可(ke)接入條(tiao)碼(ma)槍來(lai)自動刷(shua)入樣品編號(hao)(hao)，分析結果(guo)可(ke)對應樣品編號(hao)(hao)輸出至(zhi)EXCEL表，分析圖像標記結果(guo)可(ke)保存。
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